探索微观世界实验室设备采购公司推荐Xe15原子力显微镜
产品介绍INTRODUCTION
ParkXE15是实验室中处理各种样品和研究员进行多变量实时分析的理想工具。其合理的价格与强大的性能相结合，使其成为业界大型样品原子力显微镜的代表。MultiSample™（多重采样™）扫描器使得ParkXE15能够实现多个样品一次性自动成像，大幅提高数据精确性和稳定性。
可扫描大件样品
与众多原子力显微镜不同，ParkXE15可以扫描尺寸为150mmx150mm的大件样品，这不仅满足了研究人员对扫描大件样品的需求，还允许故障分析工程师放置硅片在样品台上。
功能齐全，可满足各种需求
ParkXE15配备了丰富的扫描模式，可以适应各类尺寸的样品，从而满足每位研究人员的需求。
特点FEATURES
通过MultiSample™（多重采样™）技术进行高效、精确测量。
多个独立自动成像，极大地提升工作效率。
特殊设计的夹头，最多可承载16个独立樣品。
全自动XY樣品载台，行程范围达150 mm×150 mm.
无轴间耦合设计，提高扫描精度并减少误差。
独立闭环XY和Z平板式或线性XY掃瞄系统，可达100μm x 100μm，并具有残余压弯小于2nm的小偏移移动能力。
强劲Z掃瞄范围达到25μm，更详细地捕捉表面特征。
非接触式操作延长针尖使用寿命并保护敏感材料免受损害。
优势ADVANTAGE
无需软件处理即可获得准确结果，无论是在平坦还是曲面的表面测量都能保持高分辨率和精度。
真正非接触TM模式有效降低针尖磨损，加长针尖寿命，同时保护被测物体免受破坏，不会产生参数依赖问题，即便是最脆弱样的软组织也能得到准确无损测量结果。
高速True Non-contact AFM提供更快速、更精确、高分辨率且无参数依赖性的纳米级表面监控，为缺陷分析提供先进电性能测试手段，是竞争对手难以比拟的一项独家技术优势。
XY柔性导向强力Z掃瞄器结合远程Z掃瞄器(选配)可实现12到25微米深入探究，以此方式能够扩展应用领域，如透明材料或液态元件等复杂介质分析。在这种情况下，您可以通过编码器控制XYZ空间内自由移动以获取最佳视角及清晰图像。此外，由于该系统采用了高速反馈机制，它还能够保持良好的动态响应能力，即使在快速变化的情况下也能维持高质量数据输出。
高分辨率数码变焦摄影头保证图像质量，无论是否需要摇摄均能提供清晰图像，对于那些需要密切关注细节的人来说这是不可或缺的一个功能。而且，该系统配备有垂直对齐电动z载台和聚焦载台，使得悬臂轻松固定到任何类型样的表面上，同时用户视野保持清晰稳定，为透明材料或液态元件等特殊应用提供了必要支持。
带DSP控制芯片的电子元件管理整个过程中的信号处理，并利用600MHz/4800 MIPS速度快处理单元来优化数据流程。这意味着所有输入/输出信号都经过专业处理，以最大限度减少噪声干扰，从而保证所生成数据质量最高。此外，该设备支持TCP/IP连接以及隔离计算机端口防止任何可能导致错误或干扰的问题出现。
多重采样的TM技术让用户可以自定义位置列表，然后完全自动化步骤完成后续任务。这一功能极大地简化了复杂操作流程，让原本繁琐的手工步骤变得简单易行，节省时间同时提高工作效率。此外，与传统方法相比，这种自主选择位置再次检查形成一个更加完善、准确无误的地形图，而不是局部检验，只是一次有限区域检查，因为它涵盖所有区域，因此通常称之为“全面”或者“全方位”的检测方法，而这也是为什么我们说这个仪器非常特别原因之一，它不仅展示出一个对象如何从不同的方向进行观察，而且展示出了一个对象内部结构如何由这些不同方向组合起来构成的一个完整三维模型。如果你想要了解更多关于这个仪器的话，请继续阅读我们的产品说明书，我们将会给您带来更多惊喜！
