FLIR热像仪获取新一代硅光子光网络物品热图像工控机价格分析案例
我记得爱尔兰科克郡的Tyndall国家研究所正在探索高性能光电子器件的组合方案。研究小组利用FLIR制冷型中波热成像仪在热显微镜系统中，清晰地呈现了新一代无源光网络的硅光子网络单元图像。这项技术对消费品和电信网络都有重大影响，随着智能手机和平板电脑的普及，以及高分辨率视频和游戏传输的大量无线流媒体信息，对当前网络体系造成了巨大压力。
提高集成度不仅需要改变硬件设计，而且在热管理方面也会面临挑战。通过整合更多功能并缩小封装空间可提高集成度，但这将导致热密度增加。新一代无源光网络（PON）的研发经理Dr.LeeCarroll表示：“过去十年见证了硅光子的发展，从出现到成为新一代信息通信技术应用媒介。”
Tyndall研究所目前正在研发用于高速家用光纤网络连接的新一代无源光网络演示模块。Si-PIC是PON核心，它负责接收输入光信号相关信息。在该装置中，连接于Si-PIC顶部的电子集成电路能够精确分配驱动光子芯片中光调制器所需的电子定时信号。
由于高频定时信号产生的热量会提高EIC和Si-PIC温度，这对硅光子芯片性能、稳定性和寿命都有影响。因此，Tyndall研究院采用FLIR X6530sc热成像仪模拟测量EIC和Si-PIC在不同工作条件下的温度，以确定保持轻触稳定的最有效方式。
Dr.Kamil Gradkowski说：“迄今为止，我们已经超越其他技术。此前我们使用过热敏电阻来研究电子电路但只能测量某个点温度，并且放置它们可能影响读数。而现在，我们可以在不接触的情况下测量整个表面的温度。”
此外，设计工程师Dr. Cormac Eason透露：“X6530sc相比之前使用过的一款机型，在图像质量上更出色。此设备能以145Hz帧率进行640x512像素级别的高分辨率操作。”
FLIR X6530sc适用于有关热动态方面科研应用，其采集帧率极高，可达3600 Hz，当配置132x8子窗口模式时。此外，该设备还具有快照功能、滤镜轮以及可拆卸式触屏LCD，可以实时监控记录内容。
通过我们的研究，我们希望改变传统的热管理方式。我认为，在成本计算中，只占了一小部分，而很大一部分来源于操作成本，其中包括冷却和热管理方面。我们希望通过不断研究更好地理解其中原理，并最终研发出更加节能解决方案。
