嵌入式教材解锁未来2012年自动化测试趋势展望
在全球范围内，电子行业正经历一场前所未有的变革。NI发布了《2012年自动化测试趋势展望》，揭示了最新的商业策略、架构、计算能力、软件创新以及I/O技术如何重塑我们的未来世界。这份报告不仅汇集了来自商业伙伴关系、内部专业知识和第三方研究的宝贵经验，更是通过对移动设备影响的深入分析，为企业提供了一套全面的战略规划框架。
该报告着眼于新兴科技如何重新定义行业格局，以及公司如何建立强大的测试组织，以确保其在激烈竞争中的领先地位。随着消费电子产品、汽车制造、高端半导体产业、航空航天国防领域以及医疗设备及通信行业不断发展，《2012年自动化测试趋势展望》为工程师和管理人员提供了一种优化测试流程并实现高效工作方式的新方法。
这份报告分为五个关键方面：商业战略与规划、大规模数据处理与计算能力、软件创新与应用开发、新型I/O接口技术，以及测量算法与仿真技术。此外，它还探讨了以下几个关键趋势：
测试组织优化：更多公司将视测试工程为核心竞争力，以此作为提升市场地位的手段。
设计过程中的测量与仿真：结合复杂模型和实际测量数据，提高产品质量，并缩短研发周期。
PCI Express外部接口：高速低延迟PC总线带来新的系统拓扑结构，同时增强外部接口功能。
移动设备普及：智能手机和平板电脑迅速崛起，对测试系统控制和监控模式产生深远影响。
便携式测量算法工具：一次性开发多次使用，无需进行额外调整，即可部署到不同硬件平台上。
《2012年自动化测试趋势展望》的内容基于学术界研究成果、中小企业用户论坛反馈以及市场调研等多元信息源，旨在以事实为依据，为面临挑战的工业界提供明智决策建议。这份报告由NI创立并维护的一个名叫“TEST”（Testing Industry Leadership）的委员会编写，该委员会致力于推动全球客户之间关于最佳检测实践共享交流。
为了进一步了解更多关于《2012年自动化测试趋势展望》的详细信息，请访问ato/zhs网站获取最新资料。
