嵌入式电路与系统新篇章2012年自动化测试趋势展望
在全球范围内，电子行业正经历一场前所未有的变革浪潮。为了应对这一转变，我们需要一个全面的视角来洞察未来趋势，并确保我们的测试策略与之保持同步。在这种背景下，美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）发布了《2012年自动化测试趋势展望》，这份报告不仅探讨了最新的商业策略、架构、计算和软件，更深入地分析了I/O技术如何影响整个产业。
通过其丰富的商业关系、内部专业知识以及第三方研究，NI得出了关于当前和未来的电子行业发展的独到见解。这份报告特别强调新兴移动设备是如何改变传统行业结构，以及企业如何建立自己的测试组织以获得竞争优势。
《2012年自动化测试趋势展望》是一本详尽的指南，它提供了一系列优化测试组织的策略和最佳实践。该报告分为五个主要类别：商业战略、架构、计算、软件和I/O，并深入探讨以下关键趋势：
测试工程师作为战略资产：组织将把他们视为核心竞争力，以此提升自身在市场中的地位。
设计流程中测量与仿真：结合复杂模型与实际测量，以提高产品质量并缩短开发周期。
PCI Express外部接口：高速且低延迟PC总线带来了新的系统拓扑结构，同时增强了外部接口功能。
移动设备革命：智能手机和平板电脑迅速普及，这正改变着我们控制和监控系统的方式。
便携式测量算法：全新的工具使得一次开发即可部署至多种处理单元。
《2012年自动化测试趋势展望》的内容来源于学术界研究成果、工业界经验分享以及用户反馈等多方面信息。它以数据为基础，为面对挑战提供了一套解决方案，以应对未来可能遇到的技术挑战。
NI创建了一个名为“TEST”（Testing Industry Leadership Committee）的领导委员会，其目的是促进来自全球数千家客户之间最先进方法论交流。该委员会旨在推动跨领域间进行会议交流，以及建立同行互通网络，从而激发更创新的业务模式和技术创新思路。
如果您想了解更多关于这个年度报告或想要加入这些领导者的网络，请访问ato/zhs获取完整版文档。此次发布不仅标志着一个新时代，也提醒我们要不断学习适应，不断创新，以保持领先地位。
