嵌入式开发平台的自动化测试2012年的趋势展望
在全球范围内，电子行业正经历一场前所未有的变革浪潮。为了应对这一转变，我们需要重新评估我们的商业策略、技术架构和软件系统，以确保我们的测试方法能够与之保持同步。NI的《2012年自动化测试趋势展望》报告就是这样一个全面的视角，它不仅探讨了影响当前和未来的最新商业策略，还深入分析了计算能力、软件创新以及I/O接口的未来发展。
报告中特别强调了移动设备如何彻底改变着行业的面貌，以及公司如何通过建立自己的测试组织来获得竞争优势。随着智能手机和平板电脑的普及，我们必须适应新的测试环境，这包括更高效的测量算法以及跨平台部署的一致性解决方案。
《2012年自动化测试趋势展望》由五个关键领域组成：商业战略、架构设计、计算资源、软件开发以及I/O接口管理。在这些领域中，报告详细阐述了以下几个主要趋势：
测试工程师成为战略资产：组织开始将其视为核心竞争力。
设计流程中的测量与仿真：结合复杂模型和实际测量以提高产品质量并缩短开发周期。
PCI Express外部接口：高速、高效PC内部总线拓扑结构，为外部接口带来了新机遇。
移动设备革命：智能手机和平板电脑使得控制和监控方式发生巨大变化。
便携式测量算法：全新工具实现一次开发多次应用于不同处理单元。
此外，该报告还涉及学术界研究、工业界反馈以及用户论坛数据分析，以提供一个基于事实的洞察力。这一切都是为了帮助我们准备好迎接着下一代技术挑战，并确保我们的测试方法始终领先于时代。
NI创建了一个专门委员会，即“NI Test Industry Leadership Committee”，旨在促进全球客户之间关于最佳测试方法交流。此委员会通过会议、网络互连以及技术分享活动，不断推动行业间知识共享，鼓励成员提出独到的见解与建议。
要了解更多关于这份报告及其内容，请访问ato/zhs进行阅读。
