嵌入式未来发展方向2012年自动化测试趋势展望
在全球范围内，电子行业正经历一场前所未有的变革浪潮。最新的商业策略、架构创新、计算能力提升、软件应用更新以及I/O技术突破都在推动这一转型。在这样的背景下，美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）发布了《2012年自动化测试趋势展望》，揭示了未来测试测量领域将面临的机遇与挑战。
NI作为行业领先者，在其丰富的商业关系、深厚的内部专业知识和第三方研究成果中汲取经验，为客户提供了全面的视角。报告特别强调新兴移动设备如何重塑传统行业结构，以及企业如何建立高效测试组织以确立自身的竞争优势。
《2012年自动化测试趋势展望》是一份详尽而全面的事务性报告，它探讨了消费电子产品、汽车制造业、半导体产业、高科技航空航天国防及医疗设备通讯等多个领域对最新测试技术和方法的需求。这份报告不仅为工程师们提供了一系列优化测试组织工作流程和最佳实践，还为管理层指出了提高生产力并降低成本的一些关键策略。
报告分为五个核心部分：商业战略规划、新颖架构设计、高性能计算解决方案、智能软件开发以及高速I/O接口技术，并重点分析了以下几个重大趋势：
测试团队成为企业核心竞争力：各大企业开始认识到有效的测试团队对于维持市场竞争力的重要性，从而投入更多资源用于提升团队质量。
测量与仿真的结合：通过集成复杂模型与实际测量数据，以提高产品质量并缩短从研发到市场上市时间。
PCI Express外部接口革命：新的PCI Express总线拓扑结构带来了更快速且具有延迟性的数据传输，同时增强了外部设备连接功能。
移动设备普及改变游戏规则：“智能手机”和“平板电脑”的迅速普及正在重新定义控制和监控系统。
便携式测量算法创新：全新的工具使得一次编写即可适用于多种不同处理单元平台上的测量算法。
这份由学术界与工业界共同参与撰写，并基于用户反馈进行调整的报告，不仅依赖于理论知识，更注重实用操作指导。它以事实为基础，向读者展示下一代技术发展方向，以应对当前面临的一系列业务挑战。
此外，《2012年自动化测试趋势展望》是由NI创立的人才领导委员会编制完成，这项委员会旨在促进全球不同行業內数千家客户分享彼此最佳測試技術與實務經驗。此委員會透過舉辦研討會、一網打盡同行互通網絡與技術交流活動，鼓勵業界人士提出獨到的見解，並促進跨行業間知識交換。
