嵌入式智慧启航2012年自动化测试新纪元
在全球范围内，自动化测试领域正迎来一场革命性的变革。美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布了《2012年自动化测试趋势展望》，揭示了未来这一领域的发展方向。这份报告深入分析了最新的商业策略、架构、计算技术、软件创新以及I/O接口，从而为工程师和管理人员提供了一系列优化测试组织的战略和最佳实践。
该报告由5个核心方面组成：商业战略规划、系统架构设计、新兴计算方法论、软件开发技巧以及I/O接口技术创新。其中，5个主要趋势值得关注：
测试组织转型：企业将视测试工程作为核心竞争力，以此在激烈市场竞争中脱颖而出。
测量与仿真的融合：通过结合复杂模型与真实测量数据，可以显著提升产品质量并缩短研发周期。
PCI Express外部接口升级：高速且低延迟PC内部总线引领新一代系统拓扑结构，同时增强外部设备连接能力。
移动设备时代到来：智能手机和平板电脑的普及正在彻底改变测试系统控制和监控方式。
便携式测量算法应用：全新的工具可以实现一次性开发，并可轻松部署至多种处理单元。
《2012年自动化测试趋势展望》的内容汇集了学术界研究成果、工业界经验分享以及用户反馈意见，为面对未来的挑战提供坚实依据。这份报告是由NI创立的TEST Leadership Committee编写，这个委员会旨在促进全球客户之间关于最佳测试方法的交流。
为了进一步了解这份重要报告，请访问ato/zhs获取详细信息。
