嵌入式开发大师的自动化测试先知2012年趋势展望
在全球范围内，电子行业正经历一场前所未有的变革浪潮。为了应对这一转变，我们需要一个全面的视角来洞察未来趋势，并确保我们的测试策略与之保持同步。在这种背景下，美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）发布了《2012年自动化测试趋势展望》，这是一份汇集了最新商业策略、架构、计算、软件和I/O影响的报告。
通过深入分析多年的自动化测试经验，以及商业关系、内部专业知识和第三方研究的结合，NI为我们提供了一套全面的见解。这份报告不仅探讨了新兴移动设备如何重塑行业格局，还详细介绍了公司如何建立强大的测试组织以巩固自身战略优势。
《2012年自动化测试趋势展望》分为五个关键领域：商业战略、架构、计算、软件和I/O。它揭示了以下几个重要趋势：
测试组织优化：各企业将测试工程作为竞争力的核心资产，以此获得市场上的领先地位。
设计流程中的测量与仿真：通过将复杂模型与实际测量相结合，可以提高产品质量，同时缩短开发周期。
PCI Express外部接口：高速低延迟PC内部总线带来了新的系统拓扑结构，并增强了外部接口功能。
移动设备的快速普及：“智能手机和平板电脑”的迅速崛起正改变着控制和监控测试系统的方式。
便携式测量算法：全新工具使得一次开发即可部署至多种不同的处理单元。
这些内容源自学术界和工业界的深度研究，以及来自用户论坛与调查、新颖技术应用以及用户顾问委员会反馈意见的地方。这份报告以数据为基础，为我们展示了一条走向未来技术挑战解决方案的大路。
《自动化测试趋势展望》由NI创立并维护的一个专家团队——NI Testing Industry Leadership Committee共同编写。该委员会旨在促进数千家客户之间关于最佳测试方法共享。此外，该委员会还致力于跨行业交流，鼓励成员提出独特见解，以促进技术创新发展。
要获取更多关于2012年《自动化testing Trend Report》的信息，请访问ato/zhs进行阅读。
