嵌入式应用实例带动的2012年自动化测试创新
在全球范围内，电子行业正经历一场前所未有的变革浪潮。为了应对这一转变，美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）最近发布了《2012年自动化测试趋势展望》，这份报告深入探讨了最新的商业策略、架构、计算资源、软件创新以及I/O技术如何塑造当前和未来的电子产业格局。
NI在撰写这份报告时，不仅参考了其丰富的商业经验，还融合了来自内部专家的专业知识和第三方研究机构的见解。这使得该报告不仅全面而且具有未来可持续性，为读者提供了一把钥匙，可以帮助他们洞察行业发展的关键动向，并采纳适应这些变化的策略。
特别地，《2012年自动化测试趋势展望》强调了新兴移动设备如何彻底改变传统行业结构，同时也阐述了企业如何通过建立自己的测试组织来确立竞争优势。随着消费电子产品、汽车制造业、半导体领域、中航国防与医疗设备等多个领域不断进步，这份报告为工程师和管理人员提供了一系列优化测试流程的最佳实践指南。
此外，该趋势展望还详细介绍了五大类别：商业战略规划、系统架构设计、新型计算机技术应用、软件开发模式创新以及I/O接口技术进步。在这些方面，该报告揭示了一些重要趋势，如将测量与仿真紧密结合以提高产品质量；PCI Express外部接口技术带来的高速数据交换能力；移动设备快速普及对测试控制方式的大影响，以及便携式测量算法工具对不同处理单元部署能力的大幅提升。
值得注意的是，这份《自动化测试趋势展望》的内容是基于大量学术研究成果和工业界反馈，并通过用户调查、小组研讨会以及市场分析来完善。此外，它采用数据驱动方法，以确保每一个提出的预测都有科学依据，有助于解决现有的商业挑战并预见未来可能出现的问题。
最后，由于NI推出“TEST Industry Leadership Committee”，旨在促进全世界数千家客户之间关于最佳测试实践交流，包括举办研讨会、私人网络建设等活动，使各行各业能够相互学习，从而共同推动整个行业向前发展。想要获取更多关于《2012年自动化测试趋势展望》的信息，请访问ato/zhs进行进一步阅读。
