嵌入式大师的自动化测试风向标2012年趋势展望
在全球范围内，电子行业正经历一场前所未有的变革浪潮。为了应对这一转变，我们需要一个全面的视角来洞察未来趋势，并确保我们的测试策略与之保持同步。在这种背景下，美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）发布了《2012年自动化测试趋势展望》，这是一份深入分析当前和未来的商业策略、架构、计算能力、软件创新以及I/O技术的报告。
通过结合内部专业知识、商业关系以及第三方研究成果，NI提供了一套最新的见解，这些见解不仅对于理解当前市场状况，还能为企业规划未来战略提供重要依据。报告特别强调了新兴移动设备如何重塑整个行业格局，以及公司如何通过建立有效的测试组织来增强其竞争优势。
此外，该报告还探讨了五个关键领域：商业战略、架构设计、计算能力提升、软件创新和I/O技术进步。这些建议旨在帮助工程师和管理人员优化他们的测试组织，并采用最先进的方法提高效率。
《2012年自动化测试趋势展望》由5个类别组成，它们分别是商业战略优化、大规模测量与仿真、高性能PCI Express接口设计、“智能”移动设备普及及便携式测量算法应用。此外，该报告还提出了“一次开发多次部署”的概念，即开发者可以创建一次性的测量算法，然后将其部署到不同的处理单元上，以适应各种不同的需求。
该报告内容基于学术界和工业界的研究成果，以及来自用户论坛、调查结果以及商业智能化顾问委员会反馈意见。它以数据为基础，为读者提供了详细而全面的信息，以便更好地理解即将到来的技术革命，并准备好面对挑战。
最后，由于NI创立了一个名为“NI测试行业领导委员会”的平台，这使得数千家客户能够分享彼此最佳实践并共同推动行业发展。此委员会鼓励成员之间进行交流，与会者包括会议活动、新兴网络建设以及技术研讨会等形式，以促进更多有价值的心智交换和合作。
