嵌入式个人计算机引领的2012年自动化测试新篇章
在全球范围内，自动化测试领域正迎来一场革命性的变革。美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布了《2012年自动化测试趋势展望》，揭示了未来这一领域的发展方向。这份报告深入分析了最新的商业策略、架构、计算技术、软件创新以及I/O接口，从而为工程师和管理人员提供了一系列优化测试组织的战略和最佳实践。
该报告由5个核心方面组成：商业战略、架构设计、计算能力提升、软件创新与I/O连接，为读者详细解析了以下几个关键趋势：
测试组织的智能演进：随着竞争日益激烈，各企业开始将测试工程作为核心竞争力的一部分，以此在市场中占据有利地位。
模型与测量融合：通过结合复杂模型与真实测量，提高产品质量，并有效缩短开发周期。
PCI Express外部接口革新：新的系统拓扑结构带来了高速低延迟PC内部总线，同时增强了外部接口功能，为用户带来更加灵活多样的应用体验。
移动设备普及带来的变化：随着智能手机和平板电脑的快速普及，对于控制和监测系统也提出了新的挑战和要求。
便携式测量算法工具发明：全新工具实现了一次开发多次部署，即可适用于各种不同的处理单元，这极大地推动了测试技术向前发展。
《2012年自动化测试趋势展望》的内容是基于学术研究成果、工业界反馈以及商业智能化顾问委员会意见精心编纂而成。该报告以数据为基础，全面展示下一代技术潮流，以应对当前面临的商业挑战。此外，由NI创立并主导的一个行业领导委员会致力于促进不同行业之间的交流与合作，让数千家客户分享彼此最先进的最佳实践。
为了更好地了解这份具有里程碑意义的报告，请访问ato/zhs进行详细阅读。
